- 探討高亮度LED的可靠性以及熱管理研究
- 介紹了一些新的可用于LED照明系統(tǒng)的散熱方法
- 利用壓電驅動而產(chǎn)生脈動空氣
- 采用主動散熱系統(tǒng)
LED照明有著許多傳統(tǒng)光源無可比擬的優(yōu)點和廣闊的市場前景。但是目前可靠性差、相關標準缺乏、價格昂貴等一系列問題困擾著LED照明產(chǎn)業(yè)的發(fā)展,特別是高亮度LED照明系統(tǒng)中的熱管理問題。本文針對LED照明系統(tǒng)的可靠性、失效模態(tài)問題做了簡單介紹,同時也介紹了一些新的可用于LED照明系統(tǒng)的散熱方法。
可靠性試驗以及失效模態(tài)
LED模組和燈具的典型失效模式包含了不同層次的失效模式,涉及到LED封裝結構以及工藝過程(如表1)。LED在實際使用中,由于復雜的環(huán)境以及封裝工藝局限性從而使封裝材料退化、熒光粉退化、金屬電遷移、局部溫度過高產(chǎn)生的熱應力所引起的芯片和硅膠的分層或金線斷裂等等,從而影響LED發(fā)光甚至導致整個LED的失效。而且LED產(chǎn)生的高溫會導致芯片的發(fā)光效率降低,光衰加快、色移等嚴重后果。
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目前,如何通過加速老化試驗準確地預測LED產(chǎn)品的可靠性還是相當有挑戰(zhàn)性的。對于LED產(chǎn)品的長期可靠性,應當關注如何建立用加速試驗來反映產(chǎn)品中出現(xiàn)的問題。對于了解和預測宏觀系統(tǒng)的可靠性,可測性非常具有挑戰(zhàn)性,主要是因為可靠性是一個多學科的問題,并且涉及到材料、設計、制造工藝、試驗和應用條件。因此,有必要開發(fā)LED燈和燈具的加速試驗以及戶外照明燈具性能測試試驗,從而可以有效地研究關于LED的各種破壞機理。
據(jù)悉,飛利浦公司目前致力于研究可靠性測試標準,從而深入了解LED以及電源驅動的失效機理。有理由相信,在不遠的將來將會有快速的、可靠的、適合于長壽命的LED照明系統(tǒng)的可靠性測試實驗及標準。
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LED照明系統(tǒng)的熱管理
高亮度LED的亮度會隨著芯片的結溫成指數(shù)遞減。因此,良好的散熱管理是LED固態(tài)照明系統(tǒng)向大功率發(fā)展的一個關鍵因素。LED固態(tài)照明系統(tǒng)的散熱與微電子封裝的散熱一樣,器件工作產(chǎn)生的熱量,首先由導熱經(jīng)過多層不同材料組成的封裝系統(tǒng)傳導到熱阱,再由對流傳熱散到環(huán)境中。LED的熱管理應該包括芯片優(yōu)化的布局設計,封裝材料(基板材料,熱界面材料)、封裝工藝和熱井的設計等方面。
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除了熱界面外,主動散熱系統(tǒng)已越來越受企業(yè)的歡迎。圖3給出了SynJet主動散熱模塊,它可以產(chǎn)生脈動空氣,從而可以把LED燈內(nèi)部的熱直接帶到外面。據(jù)了解,SynJet技術可以幫助設計師解決一些產(chǎn)品的散熱問題,如電腦產(chǎn)品,特別是高可靠性的LED產(chǎn)品。該技術有高散熱效率、低噪音、高可靠性和低功耗等優(yōu)點。
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另一種主動冷卻系統(tǒng)是利用壓電驅動而產(chǎn)生脈動空氣,如圖4所示。該結構簡單,由一個PZT膜片和流動通道構成。該流動通道中設計者重點論述了出口和進口通道的設計。這種結構允許每一個振動周期中的流體在管道中的阻力和動力差別。
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對于可靠性要求較高的LED照明系統(tǒng),有必要發(fā)展快速的、可靠的以及低成本的LED可靠性檢測方法。另一方面,應不斷發(fā)展新的科技提高LED照明系統(tǒng)的質(zhì)量,包括工藝、材料以及仿真方法。
不斷發(fā)展可靠性測試方法,可以更好的模仿燈具的應用條件或用戶要求,這樣可以更有效地研究各種破壞機理。