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寬禁帶半導(dǎo)體仿真模型驗(yàn)證 – 第三部分

發(fā)布時(shí)間:2021-08-02 來源:James Victory 責(zé)任編輯:wenwei

【導(dǎo)讀】今天,我們將完成我們關(guān)于寬禁帶生態(tài)系統(tǒng)的第三部分系列文章。在第一部分,我們聚焦物理可擴(kuò)展的模型,第二部分,我們重點(diǎn)介紹我們的碳化硅功率MOSFET模型的某些方面。在這博客系列的第三部分,我們將聚焦模型驗(yàn)證。
 
寬禁帶半導(dǎo)體仿真模型驗(yàn)證 – 第三部分
圖1
 
我們首先在上面的圖1中顯示輸出電流-電壓特性。該模型準(zhǔn)確地預(yù)測(cè)了整個(gè)偏置范圍,包括高門極處的漂移區(qū)和漏極偏差。右邊圖中精確的傳導(dǎo)仿真突出了模型的連續(xù)性,這對(duì)于強(qiáng)固的收斂性能非常重要。除了線性地發(fā)現(xiàn)隱藏的不準(zhǔn)確和不連續(xù)之外,我們還常以對(duì)數(shù)標(biāo)度觀察。
 
寬禁帶半導(dǎo)體仿真模型驗(yàn)證 – 第三部分
圖2
 
在圖2中,我們顯示了在寬溫度范圍內(nèi)電流電壓、RDSon和閾值電壓的結(jié)果。SiC MOSFET器件由于其穩(wěn)定的溫度性能而非常有吸引力。寬溫度范圍的高精度建模使設(shè)計(jì)師能夠充分利用這一品質(zhì)。
 
寬禁帶半導(dǎo)體仿真模型驗(yàn)證 – 第三部分
圖3
 
在本系列博客的第一部分中,我們介紹了復(fù)雜器件電容的物理模型。結(jié)果如圖3所示。在左邊,CRSS(或CGD)仿真跟蹤超過兩個(gè)以上數(shù)量級(jí)數(shù)據(jù)的多重變化,只在一個(gè)對(duì)數(shù)標(biāo)度上可見。
 
寬禁帶半導(dǎo)體仿真模型驗(yàn)證 – 第三部分
圖4
 
通過精確建模的固有電容和器件布板寄生值,就可以得出開關(guān)結(jié)果,如圖4所示,不需要額外的模型精調(diào)。這保真度水平使應(yīng)用設(shè)計(jì)人員有信心精確仿真器件電路相互影響,如dV/dt、dI/dt、開關(guān)損耗和電磁干擾(EMI)。還可研究和優(yōu)化門極驅(qū)動(dòng)器和電源回路的相互作用。
 
滿足客戶多樣化的仿真平臺(tái)需求對(duì)我們很重要。因此,SPICE不可知論的方法至關(guān)重要。不可知論法意思是在行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)仿真軟件中只使用最小公分母結(jié)構(gòu),避免依賴仿真器的專有方案。
 
安森美半導(dǎo)體提供一系列先進(jìn)的寬禁帶器件和仿真環(huán)境。這完整的陣容構(gòu)成一個(gè)生態(tài)系統(tǒng),使我們的客戶能夠充分實(shí)現(xiàn)新的、令人興奮的寬禁帶應(yīng)用和系統(tǒng)的潛力。
 
 
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