【導(dǎo)讀】浪涌抗擾度測試表明，設(shè)備或設(shè)備在雷擊，或切換重載，或短路故障條件下，引起的工業(yè)電源浪涌等事件中的耐受能力。本文以ADI的AD74115H舉例，如何進(jìn)行浪涌抗擾度測試。
01 浪涌抗擾度測試原理及詳細(xì)分析
首先明確測試目標(biāo)：浪涌抗擾度測試旨在評(píng)估受試設(shè)備 (EUT)， 在高能電源與互連線干擾（浪涌脈沖）下的性能。
圖 1 . 浪涌抗擾度測試原理 （圖片來源于Bel Fuse）
1.1 浪涌抗擾度測試兩大主要部分：
● 浪涌脈沖脈沖發(fā)生器
通常通過源阻抗（例如 10 Ω 的電阻、9 μF 的串聯(lián)電容）直接耦合至信號(hào)。
● 去耦網(wǎng)絡(luò)（CDN）
去耦網(wǎng)絡(luò)（CDN）通常包含，（在抗擾度測試系統(tǒng)內(nèi)）有助于在浪涌測試期間的保護(hù)電源或輔助設(shè)備。其中去耦網(wǎng)絡(luò)（CDN）中的電感，結(jié)合電源轉(zhuǎn)化器輸入電容，從而起到去耦合的作用。
然而，CDN 中使用的電感越高，預(yù)期振蕩概率就越高。相反，轉(zhuǎn)換器輸入電容越高，振蕩的概率就越低。
當(dāng) EUT 通過CDN 連接，當(dāng)前設(shè)計(jì)的電源轉(zhuǎn)換器可能無法啟動(dòng)或出現(xiàn)振蕩。在某些情況下，振蕩可能會(huì)導(dǎo)致 EUT 損壞。
1.2 浪涌抗擾度測試關(guān)鍵參數(shù)：
● 直流電源的輸入電壓
結(jié)論：較高的直流電源輸入電壓，有利于測試。
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn) EN 50121-3-2 ，浪涌測試應(yīng)在最大輸入工作電壓下執(zhí)行。例如，電池電壓為 110 V 時(shí)，應(yīng)以137.5 V 進(jìn)行測試。
務(wù)必要確保將直流電源電壓調(diào)整到足夠高，以補(bǔ)償 CDN 和輸入線的損耗。
舉例：使用24 V DC/DC 轉(zhuǎn)換器，功率為300 W，CDN 串聯(lián)阻抗 0.5 Ω，CDN 電壓降將為大約 7 V。
同時(shí)，輸入電壓越高，預(yù)期振蕩概率就越低。
● 負(fù)載輸出電流
結(jié)論：較低的負(fù)載輸出電流，有利于測試。
輸出功率越低，從電源吸取的輸入電流就越低。當(dāng)負(fù)載足夠低時(shí)，振蕩就會(huì)消失。
● 去耦網(wǎng)絡(luò)CDN的額定電流
結(jié)論：較低的去耦電感，較低的串聯(lián)電阻，較高額定電流的 CDN，發(fā)生振蕩的可能性較低。
在IEC 61000-4-5 標(biāo)準(zhǔn)中，并未指定 CDN 電感參數(shù)。因此，市場上推出了各類 CDN 設(shè)備，這導(dǎo)致部分測試實(shí)驗(yàn)室使用具有相當(dāng)高電感的 CDN，其中的 DC/DC 轉(zhuǎn)換器可能會(huì)發(fā)生振蕩。相反，有的實(shí)驗(yàn)室可能使用較低電感的 CDN，且沒有觀察到不穩(wěn)定性現(xiàn)象。CDN 的通用電感約為 1 mH（每極）。
● IEC 61000-4-5 浪涌測試等級(jí)
02 發(fā)生振蕩的原因與可能的解決方案
● 無負(fù)載情況下，發(fā)生振蕩的原因
開關(guān)“SW”打開后（或電路中引入其他變化/階躍），此 LC 電路中出現(xiàn)頻率為“fr”的諧波振蕩。
fr = (1/2pi) * (1/sqrt(L*C))
圖 2. 無負(fù)載情況下，發(fā)生振蕩的原因 （圖片來源于Bel Fuse）
由于能量無法及時(shí)耗散，因此能量在電容和電感之間，以恒定的幅度長久持續(xù)地振蕩。
● 可能的解決方案 - 引入耗散電阻
為了避免振蕩的發(fā)生，可以引入耗散電阻（比如電阻“Rdump”），則電感和電容之間的能量傳輸就會(huì)有損耗，且振蕩幅度會(huì)隨著時(shí)間的推移而減小。
圖 3. 可能的解決方案 - 引入耗散電阻 （圖片來源于Bel Fuse）
● 連接了穩(wěn)壓電源轉(zhuǎn)換器情況下，發(fā)生振蕩的原因
如果連接了穩(wěn)壓電源轉(zhuǎn)換器而非耗散元件（如電阻負(fù)載），則幅度不會(huì)減小，而是及時(shí)放大。
圖 4. 連接了穩(wěn)壓電源轉(zhuǎn)換器情況下，發(fā)生振蕩的原因 （圖片來源于Bel Fuse）
● 可能的解決方案 - 引入耗散電阻
若要補(bǔ)償這種影響，至少需要在電路中添加耗散電阻“R”。若要耗散足夠快，“R”的值應(yīng)該越小越好。
圖5. 可能的解決方案 - 引入耗散電阻 （圖片來源于Bel Fuse）
電阻“R”的并聯(lián)（左圖），會(huì)在直流條件下導(dǎo)致額外顯著耗散。因此，最好串聯(lián)電阻“Rs”和電容器“Cs”（右圖），以更有效地抑制振蕩。
03 減輕浪涌測試期間振蕩的可用解決方案比較
除了引入耗散電阻之外，我們還可以通過調(diào)整輸入電容或者限制轉(zhuǎn)換器調(diào)節(jié)環(huán)路帶寬，來減輕浪涌測試期間振蕩。下面是三種方案的比較：
04 ADI AD74115H浪涌測試實(shí)例
根據(jù)IEC 61000-4-5工業(yè)環(huán)境標(biāo)準(zhǔn)：
● 浪涌為兩種波形的組合波：
上升時(shí)間1.2μs與50μs脈寬開路電壓
上升時(shí)間8μs與20μs脈寬短路電流
● DUT（被測器件）在每個(gè)額定值下經(jīng)受五次正浪涌和五次負(fù)浪涌。
每個(gè)浪涌之間的間隔為1分鐘。對(duì)AD74115H輸出電纜進(jìn)行浪涌測試，該電纜被視為DUT的非屏蔽非對(duì)稱操作互連線。浪涌通過去耦網(wǎng)絡(luò)CDN 117施加到I/O和傳感器。
● CDN（去耦網(wǎng)絡(luò)）不影響DUT的指定功能條件。DUT和CDN之間的互連線路長度應(yīng)小于等于2m。
圖6. ADI AD74115H浪涌測試實(shí)例 （圖片來源于ADI）
4.1 硬件配置
為了確保I/O口和傳感器引腳以及用于內(nèi)部數(shù)字輸出FET的完整性。
浪涌測試期間測試對(duì)象，需要測試下面這些特定對(duì)象：
● 電壓輸出（以及通過重新配置ADC輸入節(jié)點(diǎn)的電壓輸入）
● 內(nèi)部數(shù)字輸出
● 傳感器引腳sense_EXT1和sense_EXT 2
浪涌相較于IO_N（AGND）一次一個(gè)地耦合到每個(gè)端子。所有測試對(duì)象均使用非屏蔽電纜。
對(duì)于電壓輸出測試對(duì)象，將6V配置為連接在IO_P和IO_N之間的100kΩ負(fù)載的輸出。測量（電壓輸入）被配置為IO_P至IO_N，范圍為0 V至12 V。
SENSE_EXT1和SENSE_EXT 2節(jié)點(diǎn)被選為診斷節(jié)點(diǎn)，并被配置為0 V到12 V范圍內(nèi)ADC的輸入。兩個(gè)串聯(lián)的AA電池被用作每個(gè)SENSE_EXTx引腳的3.1 V輸入。
對(duì)于內(nèi)部數(shù)字輸出，在IO_P和IO_N之間連接1 kΩ負(fù)載電阻器。該測量值被配置為對(duì)流過內(nèi)部RSET的電流進(jìn)行內(nèi)部診斷。
4.2 軟件配置
使用的軟件是AD74115H評(píng)估板提供的評(píng)估軟件。在每次測試開始時(shí)，進(jìn)行預(yù)測試配置。在放電之前，執(zhí)行前測量流程。放電后，執(zhí)行后測量流程。
● 預(yù)測試配置
○ 重置DUT
○ 清除警報(bào)狀態(tài)寄存器
○ 配置信道
○ 配置ADC測量節(jié)點(diǎn)
○ 配置ADC采樣率為20 SPS
● 前測量與后測量流程
○ 讀取并存儲(chǔ)警報(bào)狀態(tài)寄存器
○ 清除警報(bào)狀態(tài)寄存器
○ 讀取ADC數(shù)據(jù)
○ 將數(shù)據(jù)保存到文件
4.3 性能表現(xiàn)總結(jié)
下表總結(jié)了浪涌試驗(yàn)結(jié)果。對(duì)于數(shù)字輸出測試對(duì)象，不記錄偏差，因?yàn)榫热Q于負(fù)載。測試驗(yàn)證了數(shù)字輸出沒有意外關(guān)閉。警報(bào)狀態(tài)寄存器中的ADC轉(zhuǎn)換錯(cuò)誤位在每次測試后設(shè)置。ADC誤差表示飽和誤差（ADC測量讀數(shù)為滿刻度），表明在測試引腳上觀察到>12 V的浪涌電壓。
● 常見的防止浪涌電流的元器件
○ 電阻
對(duì)于小功率電源(最多幾瓦)，增加一個(gè)串聯(lián)電阻，是一個(gè)簡單和實(shí)用的解決方案，以限制浪涌電流。但限制浪涌電流的的電阻會(huì)造成功率損耗，不適合大功率設(shè)備。
○ 熱敏電阻
熱敏電阻是一種阻值隨溫度變化而發(fā)生較大變化的電阻元件，他們通常作為電流限制器。
熱敏電阻分為兩類：
正溫度系數(shù)（PTC）熱敏電阻
負(fù)溫度系數(shù)（NTC）熱敏電阻
○ 浪涌電流限制器
這些浪涌電流限制器可用于各種配置和保護(hù)涂層，以適應(yīng)幾乎所有應(yīng)用。一般來說，串珠式熱敏電阻具有高穩(wěn)定性和可靠性，響應(yīng)時(shí)間快，在高溫下運(yùn)行。磁盤和芯片類型通常比串珠式的大，因此它們的響應(yīng)時(shí)間相對(duì)較慢。然而，它們通常具有更高的耗散常數(shù)，因此在測量、控制和補(bǔ)償應(yīng)用中能夠更好地處理功率。他們通常成本較低，更容易更換的特點(diǎn)。
總結(jié)
浪涌抗擾度測試儀能模擬雷擊和開關(guān)操作產(chǎn)生瞬態(tài)過電壓干擾波，評(píng)估各種設(shè)備的抗電磁干擾能力是否滿足要求。對(duì)于測量不同的受試設(shè)備，還需要留意受試設(shè)備自身的特點(diǎn)，增加合適的測試對(duì)象與流程，才能確保受試設(shè)備各個(gè)部分的信號(hào)完整性。
小編的話
浪涌抗擾度測試是模擬雷電帶來的嚴(yán)重干擾進(jìn)行試驗(yàn)，并以此為評(píng)定設(shè)備的電源線、I/O線以及通信線的抗干擾能力提供依據(jù)。您在進(jìn)行浪涌抗擾度測試時(shí)是否遇到過文章中提到的問題？您是如何解決相關(guān)問題的？相信本文提供的思路和參考可以為小伙伴們進(jìn)行浪涌抗擾度測試提供有效的方法。
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