- 高直流母線電壓
- 長死區(qū)時間
- 高開關(guān)頻率
- 低速工作,特別是在控制算法未添加任何補償?shù)拈_環(huán)驅(qū)動中
利用數(shù)字隔離器技術(shù)增強工業(yè)電機控制性能
發(fā)布時間:2017-12-12 來源:Dara O''Sullivan 和 Maurice Moroney 責(zé)任編輯:wenwei
【導(dǎo)讀】隔離用戶及敏感電子部件是電機控制系統(tǒng)的重要考慮事項。安全隔離用于保護用戶免受有害電壓影響,功能隔離則專門用來保護設(shè)備和器件。電機控制系統(tǒng)可能包含各種各樣的隔離器件,例如:驅(qū)動電路中的隔離式柵極驅(qū)動器;檢測電路中的隔離式ADC、放大器和傳感器;以及通信電路中的隔離式SPI、RS-485、標(biāo)準(zhǔn)數(shù)字隔離器。無論是出于安全原因,還是為了優(yōu)化性能,都要求精心選擇這些器件。
雖然隔離是很重要的系統(tǒng)考慮,但它也存在缺點:會提高功耗,跨過隔離柵傳輸數(shù)據(jù)會產(chǎn)生延遲,而且會增加系統(tǒng)成本。系統(tǒng)設(shè)計師傳統(tǒng)上求助于光隔離方案,多年來,它是系統(tǒng)隔離的當(dāng)然選擇。最近十年來,基于磁性(變壓器傳輸)方法的數(shù)字隔離器提供了一種可行且在很多時候更優(yōu)越的替代方案;從系統(tǒng)角度考慮,它還具備系統(tǒng)設(shè)計師可能尚未認(rèn)識到的優(yōu)點。
本文將討論這兩種隔離解決方案,重點論述磁隔離對延遲時序性能的改善,以及由此給電機控制應(yīng)用在系統(tǒng)層面帶來的好處。
隔離方法
光耦利用光作為主要傳輸方法,如圖1所示。發(fā)送側(cè)包括一個LED,高電平信號開啟LED,低電平信號關(guān)閉LED。接收側(cè)利用光電檢測器將接收到的光信號轉(zhuǎn)換回電信號。隔離由LED與光電檢測器之間的塑封材料提供,但也可利用額外的隔離層(通?;诰酆衔?予以增強。
圖1. 光耦結(jié)構(gòu)
光耦的最大缺點之一是:LED老化,會使傳輸特性漂移;設(shè)計人員必須考慮這一額外問題。LED老化導(dǎo)致時序性能隨著時間和溫度而漂移。因此,信號傳輸和上升/下降時間會受影響,使設(shè)計復(fù)雜化,尤其是考慮到本文后面要處理的問題。
光耦的性能擴展也是受限的。為了提高數(shù)據(jù)速率,必須克服光耦固有的寄生電容問題,該問題會導(dǎo)致功耗升高。寄生電容還會提供耦合機制,導(dǎo)致基于光耦的隔離器件的CMTI(共模瞬變抗擾度)性能劣于競爭方案。
磁隔離器(基于變壓器)已大規(guī)模應(yīng)用十多年,是光耦合器的有效替代方案。這類隔離器基于標(biāo)準(zhǔn)CMOS技術(shù),采用磁傳輸原理,隔離層由聚酰亞胺或二氧化硅構(gòu)成,如圖2所示。低電平電流以脈沖方式通過線圈傳輸,產(chǎn)生一個磁場,磁場穿過隔離柵,在隔離柵另一側(cè)的第二線圈中感生一個電流。由于采用標(biāo)準(zhǔn)CMOS結(jié)構(gòu),其在功耗和速度方面具有明顯優(yōu)勢,而且不存在光耦合器相關(guān)的壽命偏差問題。此外,基于變壓器的隔離器的CMTI性能優(yōu)于基于光耦合器的隔離器。
圖2. 磁性變壓器結(jié)構(gòu)
基于變壓器的隔離器還允許使用常規(guī)的信號處理模塊(防止傳輸雜散輸入)和高級傳輸編解碼機制。這樣就可以實現(xiàn)雙向數(shù)據(jù)傳輸,使用不同編碼方案來優(yōu)化功耗與傳輸速率的關(guān)系,以及將重要信號更快速、更一致地傳輸?shù)礁綦x柵另一端。
延遲特性比較
所有隔離器的一個重要但常常被輕視的特性是其傳輸延遲。此特性衡量信號(可以是驅(qū)動信號或故障檢測信號)沿任一方向跨過隔離柵所需的時間。技術(shù)不同,傳輸延遲差別很大。通常提供的是典型延遲值,但系統(tǒng)設(shè)計師特別關(guān)注最大延遲,它是設(shè)計電機控制系統(tǒng)需要考慮的重要特性。表1給出了光耦合器和磁隔離柵極驅(qū)動器的傳輸延遲和延遲偏差值示例。
表1: 光耦合器和磁隔離器的典型延遲特性
如表1所示,磁隔離在最大延遲和延遲可重復(fù)性(偏差)方面優(yōu)勢明顯。這樣,電機控制設(shè)計人員對設(shè)計將更有信心,無需增加時序裕量以滿足柵極驅(qū)動器特性。對于電機控制系統(tǒng)的性能和安全,這都有著非常重要的意義。
對電機控制系統(tǒng)的系統(tǒng)影響
圖3顯示了交流電機控制應(yīng)用中采用的典型三相逆變器。該逆變器由直流母線供電,直流電源通常是通過二極管橋式整流器和容性/感性-容性濾波器直接從交流電源產(chǎn)生。在大部分工業(yè)應(yīng)用中,直流母線電壓在300 V至1000 V范圍內(nèi)。采用脈寬調(diào)制(PWM)方案,以5 kHz至10 kHz的典型頻率切換功率晶體管T1至T6,從而在電機端子上產(chǎn)生可變電壓、可變頻率的三相正弦交流電壓。
圖3. 電機控制應(yīng)用中的三相逆變器
PWM信號(如PWMaH和PWMaL)在電機控制器(一般用處理器和/或FPGA實現(xiàn))中產(chǎn)生。這些信號一般是低壓信號,與處理器共地。為了正確開啟和關(guān)閉功率晶體管,邏輯電平信號的電壓電平和電流驅(qū)動能力必須被放大, 另外還必須進行電平轉(zhuǎn)換,從而以相關(guān)功率晶體管發(fā)射極為接地基準(zhǔn)。根據(jù)處理器在系統(tǒng)中的位置,這些信號可能還需要安全絕緣。
柵極驅(qū)動器(如圖3中的GDRVaL和GDRVaH)執(zhí)行這種功能。每個柵極驅(qū)動器IC都需要一個以處理器地為基準(zhǔn)的原邊電源電壓和一個以晶體管發(fā)射極為基準(zhǔn)的副邊電源。副邊電源的電壓電平必須能夠開啟功率晶體管(通常為15 V),并有足夠的電流驅(qū)動能力來給晶體管柵極充電和放電。
逆變器死區(qū)時間
功率晶體管有一個有限的開關(guān)時間,因此,上橋和下橋晶體管之間的脈寬調(diào)制波形中必須插入一個死區(qū)時間,如圖4所示。這是為了防止兩個晶體管意外同時接通,引起高壓直流母線短路,進而造成系統(tǒng)故障和/或損壞風(fēng)險。死區(qū)時間的長度由兩個因素決定:晶體管開關(guān)時間和柵極驅(qū)動器傳輸延遲失配(包括失配的任何漂移)。換言之,死區(qū)時間必須考慮PWM信號從處理器到上橋和下橋柵極驅(qū)動器之間的晶體管柵極的任何傳輸時間差異。
圖4. 死區(qū)時間插補
死區(qū)時間會影響施加到電機的平均電壓,尤其是在低速運轉(zhuǎn)時。實際上,死區(qū)時間會帶來以下近似恒定幅度的誤差電壓:
其中,為誤差電壓,為死區(qū)時間,和為晶 體管開啟和關(guān)閉延遲時間,為PWM開關(guān)周期,為直流母線電壓,為功率晶體管的導(dǎo)通狀態(tài)壓降,為二極管導(dǎo)通電壓。
當(dāng)一個相電流改變方向時,誤差電壓改變極性,因此,當(dāng)線路電流過零時,電機線間電壓發(fā)生階躍變化。這會引起正弦基波電壓的諧波,進而在電機中產(chǎn)生諧波電流。對于開環(huán)驅(qū)動采用的較大低阻抗電機,這是一個特別重要的問題,因為諧波電流可能很大,導(dǎo)致低速振動、扭矩紋波和諧波加熱。
在以下條件下,死區(qū)時間對電機輸出電壓失真的影響最嚴(yán)重:
低速工作很重要,因為正是在這種模式下,施加的電機電壓在任何情況下都非常低,死區(qū)時間導(dǎo)致的誤差電壓可能是所施加電機電壓的很大一部分。此外,誤差電壓導(dǎo)致的扭曲抖動的影響更有害,因為對系統(tǒng)慣性的濾波只有在較高速度下才可用。
在所有這些參數(shù)中,死區(qū)時間長度是唯一受隔離式柵極驅(qū)動器技術(shù)影響的參數(shù)。死區(qū)時間長度的一部分是由功率晶體管的開關(guān)延遲時間決定的,但其余部分與傳播延遲失配有關(guān)。在這方面,光隔離器顯然不如磁隔離技術(shù)。
應(yīng)用示例
為了說明死區(qū)時間對電機電流失真的影響,下面給出了基于三相逆變的開環(huán)電機驅(qū)動的結(jié)果。逆變器柵極驅(qū)動器采用ADI公司的磁隔離器(ADuM4223ADuM4223), 直接驅(qū)動IR的IRG7PH46UDPBF 1200 V IGBT。直流母線電壓為700 V。逆變器驅(qū)動開環(huán)V/f控制模式下的三相感應(yīng)電機。利用阻性分壓器和分流電阻,并結(jié)合隔離式∑–? 調(diào)制器(同樣是來自ADI公司的AD7403),分別測量線電壓和相電流。各調(diào)制器輸出的單位數(shù)據(jù)流被送至控制處理器(ADI公司的ADSP-CM408)的sinc濾波器,數(shù)據(jù)在其中進行濾波和抽取后,產(chǎn)生電壓和電流信號的精確表示。
sinc數(shù)字濾波器輸出的線電壓實測結(jié)果如圖5所示。實際線電壓為10 kHz的高開關(guān)頻率波形,但它被數(shù)字濾波器濾除,以便顯示我們感興趣的低頻部分。相應(yīng)的電機相電流如圖6 所示。
圖5. 實測線間電機電壓:(左)500 ns死區(qū)時間;(右)1 µs死區(qū)時間
圖6. 實測電機電流:(左)500 ns死區(qū)時間;(右)1µs死區(qū)時間
ADuM4223柵極驅(qū)動器的傳輸延遲失配為12 ns,因此可以使用IGBT開關(guān)所需的絕對最短死區(qū)時間。對于IR IGBT,最短死區(qū)時間可設(shè)置為500 ns。從左圖可看出,這種情況下的電壓失真極小。同樣,相電流也是很好的正弦波,因此扭矩紋波極小。右圖顯示死區(qū)時間提高到1 µs時的線電壓和相電流。此值更能代表光耦合柵極驅(qū)動器的需求,因為其傳播延遲失配和漂移更大。電壓和電流的失真均有明顯增加。這種情況使用的感應(yīng)電機是相對較小的高阻抗電機。在更高功率的終端應(yīng)用中,感應(yīng)電機阻抗通常要低得多,導(dǎo)致電機電流失真和扭矩紋波增加。扭矩紋波在很多應(yīng)用中都會產(chǎn)生有害影響,例如:電梯乘坐舒適度下降或機械系統(tǒng)中的軸承/聯(lián)軸器磨損。
過流關(guān)斷
現(xiàn)代柵極驅(qū)動器的另一個重要問題是處理器發(fā)出的關(guān)斷命令能以多快的速度在IGBT上實現(xiàn)。這對于以下情況中的過流關(guān)斷很重要:過流檢測不是柵極驅(qū)動器本身的一部分,而是作為檢測與濾波電路的一部分加以實現(xiàn)。這方面的另一個壓力是更高效率IGBT的短路耐受時間縮短。對此,IGBT技術(shù)的趨勢是從業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)10µs縮短到5 µs甚至更短。如圖7所示,過流檢測電路通常需要數(shù)微秒時間來鎖存故障;為了順應(yīng)總體發(fā)展趨勢,必須采取措施來縮短這一檢測時間。該路徑中的另一主要因素是從處理器/FPGA輸出到IGBT柵極(柵極驅(qū)動器)的傳播延遲。同樣,磁隔離器相對于光學(xué)器件有明顯優(yōu)勢,原因是前者的傳播延遲值非常小,通常在50 ns左右,不再是影響因素。相比之下,光耦合器的傳播延遲在500 ns左右,占到總時序預(yù)算的很大一部分。
圖7. 故障關(guān)斷時序
電機控制應(yīng)用的柵極驅(qū)動器關(guān)斷時序如圖8所示,其中處理器的關(guān)斷命令跟在IGBT柵極發(fā)射極信號之后。從關(guān)斷信號開始到IGBT柵極驅(qū)動信號接近0的總延遲僅有72 ns。
圖8. 過流關(guān)斷柵極驅(qū)動器時序
小結(jié)
隨著人們更加關(guān)注系統(tǒng)性能、效率和安全,電機控制架構(gòu)師在設(shè)計穩(wěn)健系統(tǒng)時面臨著日益復(fù)雜的挑戰(zhàn)。基于光耦合器的柵極驅(qū)動器是傳統(tǒng)選擇,但基于變壓器的解決方案不僅在功耗、速度、時間穩(wěn)定性上更具優(yōu)勢,而且如本文所述,由于信號延遲縮短,其在系統(tǒng)性能和安全方面也有明顯優(yōu)勢。這使得設(shè)計人員可以在防止上橋和下橋開關(guān)同時接通的同時,有把握地縮短死區(qū)時間,改善系統(tǒng)性能。此外,它還支持對系統(tǒng)命令和錯誤作出更快速的響應(yīng),這同樣能增強系統(tǒng)可靠性并提高安全性。鑒于這些優(yōu)勢,基于變壓器的隔離式柵極驅(qū)動器已成為電機控制系統(tǒng)設(shè)計的一個主要選擇;強烈建議系統(tǒng)設(shè)計人員在設(shè)計下一個項目時,把器件延遲作為一項重要要求。
本文轉(zhuǎn)載自亞德諾半導(dǎo)體。
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